Interference Microscope (6JA)

MC008 系列干涉显微镜
MC008 系列（ 6JA ）
一、 6JA 干涉显微镜产品用途：
本仪器是用来测量精密加工零件（平面、圆柱等外表面）光洁度的仪器，也可以用来测量零件表面刻线，镀层等深度。
仪器配以各种附件，还能测量粒状，加工纹路混乱的表面，低反射率的工件表面，同时还能将仪器安置在工件上，对大型工件表面进行测量。仪器测量表面不平深度范围为 1 ～ 0.03 微米，用测微目镜和照相方法来评定 10 ～ 14 光洁度的表面。
本仪器适用于厂矿企业计量室，精密加工车间，也适用于高等院校，科学研究等单位。
二、 6JA 干涉显微镜规格：
1 、测量表面光洁度范围： 0.03 ～ 1 μ m （ 10 ～ 14 ） 8 、半宽度：λ≈ 100Å
2 、工作物镜的数值孔径： 0.65 9 、工作台升程： 5mm
3 、工作距离 0.5mm 10 、 X 、 Y 方向移动范围：≈ 10mm
4 、仪器的视场 目视：Φ 0.25mm 11 、旋转运动范围： 360 °
照相： 0.21 × 0.15mm 12 、仪器标准镜高反射率：≈ 60%
5 、仪器的放大倍数目视： 500 × 13 、低反射率：≈ 4%
照相： 168 × 14 、可调变压器输入电压： 220V
6 、测微目镜放大倍数 12.5 × 15 、输出电压： 4V ～ 6V
7 、测微鼓分划值 0.01mm 16 、仪器外形尺寸： 270 × 160 × 230mm
8 、绿色干涉绿色片波长 λ≈ 5300Å 17 、仪器重量：≈ 5