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共 64 款产品,系列:金相显微镜
4XC4XC系列三目倒置金相显微镜(4XC、4XC-D、4XC-P、4XC-T、4XC-ST)
研润MICROCRE显微镜系列

4XC系列三目倒置金相显微镜

MC006 系列 4XC 系列三目倒置金相显微镜 MC006 系列 (4XC 、 4XC-D 、 4XC-P 、 4XC-T 、 4XC-ST) 一、 4XC 系列金相显微镜产品简介: 4XC 三目倒置金相显微镜主要用于…

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MMAS-4MMAS-4 金相显微镜测量分析系统
研润MICROCRE显微镜系列

MMAS-4 金相显微镜测量分析系统

MMAS-4图像处理型金相显微镜测量分析系统是将传统的光学显微镜与计算机通过光电转换有机的结合在一起,不仅可以在目镜上作显微观察,还能在计算机显示屏幕上观察图像,并能将所需要的图片进行编辑、保存和打印,同时还可以对金相组织结构进行数据处理分

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MMAS-5MMAS-5 金相显微镜测量分析系统
研润MICROCRE显微镜系列

MMAS-5 金相显微镜测量分析系统

MMAS-5金相显微镜测量分析系统适用于对不透明物体进行显微观察。MMAS-5配置落射照明器、长距平场消色差物镜(无盖玻片)、大视野目镜和内置偏光观察装置,具有图像清晰、衬度好,操作方便等特点,是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理

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MMAS-6MMAS-6 金相显微镜测量分析系统
研润MICROCRE显微镜系列

MMAS-6 金相显微镜测量分析系统

MMAS-6金相显微镜测量分析系统是适用于对不透明物体或透明物体的显微观察。MMAS-6配置落射与透射照明系统、长距平场消色差物镜(无盖玻片)、大视野目镜和内置偏振观察装置,具有图像清晰、衬度好,操作方便等特点,是生物学、金属学、矿物学、精

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MMAS-8MMAS-8 金相显微镜测量分析系统
研润MICROCRE显微镜系列

MMAS-8 金相显微镜测量分析系统

MMAS-8透反射(双色)金相显微镜测量分析系统配置透反射照明系统,长距平场消色差物镜(无盖玻片)、大视野目镜和内置偏光观察装置,光学系统成像清晰,视野广阔,适用于工矿企业,高等院校及科研等机构作材料内部组织结构观察。MMAS-8系统配备了

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MMAS-9MMAS-9 金相显微镜测量分析系统
研润MICROCRE显微镜系列

MMAS-9 金相显微镜测量分析系统

MMAS-9落射式偏光金相显微镜测量分析系统适用于对不透明物体的显微观察。采用柯拉照明系统,配置优良的长工作距平场消色差物镜与大视野物镜,可提供出色的光学性能。产品主体采用“T”型防振结构设计,适用于大试样的显微观察

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MMAS-12MMAS-12 金相显微镜测量分析系统
研润MICROCRE显微镜系列

MMAS-12 金相显微镜测量分析系统

MMAS-12金相显微镜测量分析系统适用于对不透明物体的显微观察。采用柯拉照明系统,配置优良的长工作距平场消色差物镜与大视野物镜,可提供出色的光学性能。产品主体采用“T”型防振结构设计,适用于大试样的显微观察。宽大的

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MMAS-15MMAS-15 金相显微镜测量分析系统
研润MICROCRE显微镜系列

MMAS-15 金相显微镜测量分析系统

MMAS-15无限远金相显微镜测量分析系统适用于对不透明物体的显微观察。采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念,可以方便升级系统,实现偏光观察、暗场观察等功能,紧凑稳定的高刚性主体,充分体现了显微操作的防振要求。符合人机工程学要求的理

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MMAS-16MMAS-16 金相显微镜测量分析系统
研润MICROCRE显微镜系列

MMAS-16 金相显微镜测量分析系统

MMAS-16金相显微镜测量分析系统用于对不透明物体的进行显微观察。本仪器配置落射照明器、长距平场消色差物镜(无盖玻片)、大视野目镜和内置偏光观察装置,具有外型美观,操作方便等特点,是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想器。适用于

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MMAS-17MMAS-17 金相显微镜测量分析系统
研润MICROCRE显微镜系列

MMAS-17 金相显微镜测量分析系统

MMAS-17透反射金相显微镜测量分析系统适用于对不透明或透明物体的显微观察。采用柯拉照明系统,配置优良的长工作距平场消色差物镜与大视野目镜,可提供出色的光学性能。 产品造型美观,操作方便,是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想装

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MMAS-18MMAS-18 金相显微镜测量分析系统
研润MICROCRE显微镜系列

MMAS-18 金相显微镜测量分析系统

MMAS-18无限远正置透反射金相显微镜测量分析系统适用于对不透明物体或透明物体的显微观察。采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念、可提供出色的光学性能与产品系统升级,实现透反射同步或者独立照明,偏光观察、暗场观察等功能,产品操作方便

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MMAS-19MMAS-19 金相显微镜测量分析系统
研润MICROCRE显微镜系列

MMAS-19 金相显微镜测量分析系统

MMAS-19微分干涉相衬金相显微镜测量分析系统适用于对多种物体的显微观察。配置落射DIC观察系统与透射照明系统、无限远长距平场消色 差物镜、大视野目镜和偏光观察装置,具有图像立体感且清晰、造型美观,操作方便等特点,是生物学、金属学、矿物学

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MMAS-20MMAS-20 金相显微镜测量分析系统
研润MICROCRE显微镜系列

MMAS-20 金相显微镜测量分析系统

MMAS-20倒置偏光金相显微镜测量分析系统采用优良的无限远光学系统与模块化的功能设计理念,可以方便升级系统,实现偏光观察、暗场观察等功能。紧凑稳定的高刚性主体,充分体现了显微镜操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计,使操作更方便舒适

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MMAS-21MMAS-21 集成电路金相显微镜分析系统
研润MICROCRE显微镜系列

MMAS-21 集成电路金相显微镜分析系统

MMAS-21集成电路金相显微镜分析系统适用于对工件表面的组织结构与几何形态进行显微观察。采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念,可以方便升级系统,实现偏光观察、暗场观察等功能,导柱升降装置,可以快速调整工作台与物镜之间的距离,适用于

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MMAS-22MMAS-22 集成电路明暗场金相显微镜分析系统
研润MICROCRE显微镜系列

MMAS-22 集成电路明暗场金相显微镜分析系统

MMAS-22集成电路明暗场金相显微镜分析系统适用于对工件表面的组织结构与几何形态进行显微观察。采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念,可以方便升级系统,实现偏光观察、暗场观察等功能,导柱升降装置,可以快速调整工作台与物镜之间的距离,

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MMAS-23MMAS-23 集成电路微分干涉DIC金相显微镜分析系统
中机PREMIUM研润MICROCRE显微镜系列

MMAS-23 集成电路微分干涉DIC金相显微镜分析系统

MMAS-23集成电路微分干涉DIC金相显微镜分析系统适用于对工件表面的组织结构与几何形态进行显微观察。采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念,可以方便升级系统,实现偏光观察,DIC观察等功能,导柱升降装置,可以快速调整工作台与物镜之

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MMAS-24MMAS-24 倒置微分干涉相衬金相显微镜分析系统
研润MICROCRE显微镜系列

MMAS-24 倒置微分干涉相衬金相显微镜分析系统

MMAS-24倒置微分干涉相衬金相显微镜分析系统适用于对多种物体的显微观察。配置落射DIC观察系统与无限远长距平场消色差物镜、大视野目镜和偏光观察装置,具有图像立体感且清晰、造型美观,操作方便等特点,是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电

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MMAS-25MMAS-25 半导体硅晶片倒置微分干涉金相显微镜分析系统
研润MICROCRE显微镜系列

MMAS-25 半导体硅晶片倒置微分干涉金相显微镜分析系统

MMAS-25半导体硅晶片倒置微分干涉金相显微镜分析系统采用优良的无限远光学系统,可提供出色的光学性能。紧凑稳定的高刚性主体,充分体现了显微操作的防振要求。模块化的功能设计,可以方便升级系统,实现偏振观察、暗视场观察、明视场微分干涉观察等功

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MMAS-26MMAS-26 无限远金相显微镜分析系统
研润MICROCRE显微镜系列

MMAS-26 无限远金相显微镜分析系统

MMAS-26无限远明暗场金相显微镜分析系统采用优良的无限远光学系统与模块化的功能设计理念,可以方便升级系统,实现偏光观察、暗场观察等功能。紧凑稳定的高刚性主体,充分体现了显微镜操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计,使操作更方便舒适

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MMAS-27MMAS-27 无限远明暗场透反射金相显微镜分析系统
研润MICROCRE显微镜系列

MMAS-27 无限远明暗场透反射金相显微镜分析系统

MMAS-27无限远明暗场金相显微镜测量分析系统适用于对不透明物体或透明物体的显微观察。采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念、可提供出色的光学性能与产品系统升级,实现透反射同步或者独立照明,偏光观察、暗场观察等功能,产品操作方便,造

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MMAS-28MMAS-28 无限远明暗场金相显微镜分析系统
研润MICROCRE显微镜系列

MMAS-28 无限远明暗场金相显微镜分析系统

MMAS-28无限远明暗场金相显微镜测量分析系统适用于对不透明物体的显微观察。采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念,可以方便升级系统,实现偏光观察、暗场观察等功能,紧凑稳定的高刚性主体,充分体现了显微操作的防振要求。符合人机工程学要

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MMAS-29MMAS-29 无限远微分干涉相衬偏光金相显微镜分析系统
研润MICROCRE显微镜系列

MMAS-29 无限远微分干涉相衬偏光金相显微镜分析系统

MMAS-29无限远微分干涉相衬偏光金相显微镜测量分析系统适用于对不透明物体的表面形态进行反射式微分干涉相衬观察,也可对透明物体进行透视显微观察。采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念,可以方便升级系统,实现偏光观察、微分干涉相衬观察

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MMAS-100MMAS-100 金相显微镜测量分析系统
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MMAS-100 金相显微镜测量分析系统

MMAS-100金相显微镜测量分析系统是针对电子、冶金、化工和仪器仪表业而开发的,能清晰地对透明、半透明以及不透明物体进行观察。MMAS-100是将传统的光学显微镜与计算机通过光电转换有机的结合在一起,不仅可以在目镜上作显微观察,还能在计算

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MMAS-200MMAS-200 金相显微镜测量分析系统
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MMAS-200 金相显微镜测量分析系统

MMAS-200金相显微镜测量分析系统用于观察透明、半透明或不透明的物质。例如:金属陶瓷、电子陶瓷、集成块、印刷电路板、液晶板、薄膜、纤维、镀涂层以及其它非金属材料,应用于医药、农林、学校、科研部门作观察分析使用,同时广泛适用于电子、冶金、

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